会议日期
2024年10月16~18日
摘要截止
2024年9月29日12:00
网上注册缴费优惠期
2024年9月29日17:00
会议现场报到
2024年10月15、16日
CY-50 电镜表征技术（Electron Microscopy Techniques）
发布时间：：2024-08-29 11:35
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材料微结构决定性能，电镜表征技术至关重要，各表征技术包括不限于：透射电镜、扫描透射电镜、扫描电镜、探针、双束电镜、联机技术等方法和应用。
Key electron microscopy techniques including TEM, STEM, SEM, AFM/STM, FIB, correlated techniques etc.
王建波 武汉大学
吴劲松 武汉理工大学
高义华 华中科技大学
李露颖 华中科技大学
武汉大学、武汉理工大学、华中科技大学
桑夏晗 武汉理工大学
19986921004
xhsang@whut.edu.cn
张智 华中科技大学
15391530821
zzhang@hust.edu.cn
赵培丽 武汉大学
13476293899
plzhao@whu.edu.cn
李雷 武汉大学
13163286278
lilei@whu.edu.cn
主办：中国材料研究学会
第五届中国新材料产业发展大会
电话：010-68710443，E-mail: cmic_public@163.com
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